Osnova sekce

    • Fotoelektronová spektroskopie. Její aplikace v charakterizaci tenkých vrstev. Dopad nabitých částic na pevnou látku. Charakteristické RTG záření a brzdné záření. Odraz a rozptyl elektronů na pevné látce. Elektron-elektronová sekundární emise.

      Literatura:

       - L. Eckertová: Fyzikální elektronika pevných látek, UK Praha 1992.

      Doplňující literatura:

       - L. Eckertová: Metody analýzy povrchů ‐ elektronová mikroskopie a difrakce, Academia Praha 1996.

       - H. Czichos, T. Saito, L. Smith: Handbook of Materials Measurement Methods, Springer Verlag 2006.