Osnova sekce

    • Aplikace sekundární elektron-elektronové emise. Elektronová mikroskopie. Transmisní a skenovací rastrovací mikroskop. Augerova spektroskopie. Iont-elektronová sekundární emise. Teorie katodového rozprašování. Sekundární ion-iontová emise.

      Literatura:

       - L. Eckertová: Fyzikální elektronika pevných látek, UK Praha 1992.

      Doplňující literatura:

       - L. Eckertová: Metody analýzy povrchů ‐ elektronová mikroskopie a difrakce, Academia Praha 1996.

       - P. M. Martin: Handbook of Deposition Technologies for Films and Coatings, Elsevier xford 2010.